長期以來，亞埃級電子顯微分辨率一直局限于像差校正電子顯微鏡，它是理解物質(zhì)的原子結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的有力工具。

　　近日，美國伊利諾伊大學香檳分校(University of Illinois Urbana–Champai)Kayla X. Nguyen，Chia-Hao Lee，Pinshane Y. Huang等，阿貢國家實驗室(Argonne National Laboratory)Yi Jiang等，在Science上發(fā)文，報道了未校正掃描透射電子顯微鏡scanning transmission electron microscope (STEM) 中的電子相干衍射成像，其深亞?？臻g分辨率低至0.44埃，超過了像差校正工具的常規(guī)分辨率，并與它們的最高圖像分辨率相媲美。

　　Achieving sub-0.5-angstrom-resolution ptychography in an uncorrected electron microscope在未校正的電子顯微鏡中，獲得低于0.5埃分辨率的圖像。

　　圖1. 未校正和畸變校正的STEMs中扭曲雙層WSe2的ADF-STEM

　　圖2. 未校正顯微鏡下扭曲雙層WSe2

　　圖3. 亞埃分辨率的電子相干衍射模擬

　　圖4. 利用像差技術(shù)優(yōu)化電子相干衍射探針

　    在廣泛使用的商業(yè)顯微鏡中，演示了二維轉(zhuǎn)角材料，遠遠超過了先前未校正的STEM分辨率(1到5埃)。還進一步展示了幾何像差如何為劑量有效的電子成像創(chuàng)造優(yōu)化的結(jié)構(gòu)光束。研究表明，對于深亞埃分辨率，不再需要昂貴的像差校正器。

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